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超声波扫描显微镜

超声波扫描显微镜使用高频超声波(15MHz~2GHz)对试件内部、亚表面和表面等进行观察及定性定量分析。其可以非破坏性、精细、高灵敏度地对试件微观形貌、微损伤及力学性能进行表征,广泛应用于微电子、集成电路、材料、航空航天和生物等领域的科学研究及过程质量控制。

Product Features

产品特点

Configuration

参数配置

Z轴行程

120mm

扫描区域

用户自定义

脉冲形式

负极性脉冲

供电方式

交流电220V±10%,频率50Hz±5%

结构形式

台式

自动对焦

可实现表面、内部任意界面自动对焦

时间估算

整体及剩余用时估算

缺陷量化

可实现缺陷自动识别及量化

边缘测定

可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘,自动设定扫描范围

力学性能测试

可用于材料表层力学性能分析,具备表面波速、泊松比、杨氏模块、剪切模量和体积模量等参数测量功能

表面跟踪扫描

可设置参考闸门,实现成像闸门跟随功能。可解决由于样品不平造成的图像失真问题


Model configuration

型号配置

型号

UVM-50

UVM-300A/B/C

UVM-500A/B/C

扫描模式

单通道

单通道/双通道/四通道

单通道/双通道/四通道

扫描范围

350mm×350mm (可定制)

430mm×430mm (可定制)

430mm×430mm (可定制)

最大扫描速率

500mm/s

1500mm/s

1500mm/s

重复精度

±10um

±0.5um

±0.1um

定位精度

±10um

±0.5um

±0.3um

AD数据采样频率

500MSa/s

1.25GSa/s

1.25GSa/s

收发带宽

50MHz

300MHz

500MHz


Application Area

应用领域

  • 芯片内部成像
  • 晶圆键合缺陷
  • 疲劳微裂纹
  • 三维集成电路TSV填充缺陷
  • 金刚石钻头内部裂纹
  • 金属蠕变
  • 复合材料内部夹杂